看板 Tech_Job作者 negohsu (專打不專業環團)標題 Re: [新聞] 應材宣布成功導入鈷材料取代銅,延續摩時間 Fri May 19 19:01:49 2017
由於這是個很有意思的題目,所以我稍微搜尋了一下相關的文獻
又由於蔽人在下我的英文很爛,且這不在我的專業領域內,若有錯誤請幫忙指正,若是有
這方面專業者請不吝指教
我使用的初始關鍵字為cobalt damascene(以下我簡稱為鈷製程),然後由reference搜尋到
相關的文獻,大致上說的是copper damascene(以下簡稱銅製程)在10nm世代終結(這裡的世
代就如同台積的16,10,7nm,非指damascene的pitch)
雖然說銅的電阻率比鈷還低很多,但是銅製程中的阻障層(barrier)並不容易再減少厚度
,在銅電鍍的過程中會因為可填入銅的體積劇減,產生空隙(void)
因此10nm以下,需要改進阻障層的材質或是採用新的導體,也就是鈷
由於鈷可以使用無電電鍍底部成長型填充製程(electroless bottom up fill in),可以製
造
出無空隙(void free)導線,因次可藉次取代銅製程
對於一般半導體廠,銅製程依舊是最佳選擇,因為銅的電阻率比鈷低很多
對於台積、英特爾、***來說(我該提聯電嗎?),更先進的製程或許會採用鈷製程
而最有潛力的運用商,會是DRAM廠
在高深寬接觸窗( high aspect ratio contact)的金屬填充上,底部成長型填充是非常有
吸引力的誘因
以上,提供給想知道更多的人一點個人所知的訊息
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→ aptivaibm: electroless 感覺是指化鍍,是的話藥水商應該很爽..
bottom up fill in 有點像是深孔鍍膜...y11F 05/19 20:28
推 alpacawu: electroless無電電鍍 用化學氧化還原法鍍15F 05/19 20:45
→ negohsu: barrier在銅的底下。感謝補充我不知道的部份16F 05/19 20:49
推 acctouhou: 我現在就在觀察雙晶銅的void 我難過qq18F 05/19 21:09
推 werz: 應該很多人早就知道換成cobalt吧
2 .3年前就在測試台積的Co pattern19F 05/19 21:13
→ p23j8a4b9z: 感謝 原本看到記者說銅導電>鈷還以為是記者亂寫
寫錯是<24F 05/19 21:54
推 melzard: 那鎳沒被嘗試過嗎?28F 05/19 22:48
推 treeyoyo: metal layer嗎?29F 05/19 23:10
推 sssnss: 有人研究Co的電遷移嗎30F 05/19 23:32
推 r781013: 恩 不知道EM嚴不嚴重..31F 05/20 00:08
我依悉有印像看到 Electromigration還可以,但是我沒有特別的針對這個主題,因為我
只是想知道CU在7nm以下為什麼得改用CO
→ luche: 想請教文中指的銅通常都是較高等級的無氧銅嗎33F 05/20 01:01
抱歉啊,我不是相關領域的,不知道是否是較高等級
請參考這遍
https://goo.gl/IGrHlP
推 Seikan: AMAT設備商王朝的領土 又擴展了一大步36F 05/20 07:15
※ 編輯: negohsu (61.223.120.47), 05/20/2017 07:30:17
推 ph99: 推!37F 05/20 08:09
推 dan0000: 無電鍍雜質很多耶! foundry 可以接受? 有點懷疑!38F 05/20 09:23
推 JBNHT: 感謝分享39F 05/20 09:47
推 CLC32: Gap-fill40F 05/20 22:46
推 astushi: Cobalt EM比Cu好 用在連結上下層的via 基本上各層metal還是copper41F 05/22 00:32
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